1檢測前，應(yīng)對超聲儀的主要技術(shù)指標（如斜探頭入射點、斜率K值或角度）進行檢查確認；應(yīng)根據(jù)所測工件的尺寸調(diào)整儀器時基線，并應(yīng)繪制距離-波幅(DAC)曲線。2 距離-波幅(DAC)曲線應(yīng)由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對比試塊上的實測數(shù)據(jù)繪制而成。當探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時，距離-波幅(DAC)曲線的繪制應(yīng)在曲面對比試塊上進行。距離﹣波幅(DAC)曲線的繪制應(yīng)符合下列要求： 1 繪制成的距離-波幅曲線（圖7．3．2）應(yīng)由評定線EL、定量線SL和判廢線RL組成。評定線與定量線之間（包括評定線）的區(qū)域規(guī)定為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）的區(qū)域規(guī)定為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域規(guī)定為Ⅲ區(qū)。
圖7．3．2 距離-波幅曲線示意圖
2 不同檢驗等級所對應(yīng)的靈敏度要求應(yīng)符合表7．3．2的規(guī)定。表中的DAC應(yīng)以Φ3橫通孔作為標準反射體繪制距離-波幅曲線（即DAC曲線）。在滿足被檢工件最大測試厚度的整個范圍內(nèi)繪制的距離-波幅曲線在探傷儀熒光屏上的高度不得低于滿刻度的20％。
3 超聲波檢測應(yīng)包括探測面的修整、涂抹耦合劑、探傷作業(yè)、缺陷的評定等步驟。4 檢測前應(yīng)對探測面進行修整或打磨，清除焊接飛濺、油垢及其他雜質(zhì)，表面粗糙度不應(yīng)超過6．3μm。當采用一次反射或串列式掃查檢測時，一側(cè)修整或打磨區(qū)域?qū)挾葢?yīng)大于2．5Kδ；當采用直射檢測時，一側(cè)修整或打磨區(qū)域?qū)挾葢?yīng)大于1．5Kδ。5 應(yīng)根據(jù)工件的不同厚度選擇儀器時基線水平、深度或聲程的調(diào)節(jié)。當探傷面為平面或曲率半徑R大于W2/4時，可在對比試塊上進行時基線的調(diào)節(jié)；當探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合的形狀，反射體的布置可參照對比試塊確定，試塊寬度應(yīng)按下式進行計算：
b≥2λS/De （7．3．5）
式中：b——試塊寬度(mm)； λ——波長(mm)； S——聲程(mm)； De——聲源有效直徑(mm)。6 當受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減與試塊不同時，宜考慮表面補償或材質(zhì)補償。7 耦合劑應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動性，不應(yīng)對材料和人體有損傷作用，同時應(yīng)便于檢測后清理。當工件處于水平面上檢測時，宜選用液體類耦合劑；當工件處于豎立面檢測時，宜選用糊狀類耦合劑。8 探傷靈敏度不應(yīng)低于評定線靈敏度。掃查速度不應(yīng)大于150mm/s，相鄰兩次探頭移動區(qū)域應(yīng)保持有探頭寬度10％的重疊。在查找缺陷時，掃查方式可選用鋸齒形掃查、斜平行掃查和平行掃查。為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動態(tài)波形，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭掃查方式。9 對所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長度。缺陷指示長度的測定可采用以下兩種方法： 1 當缺陷反射波只有一個高點時，宜用降低6dB相對靈敏度法測定其長度； 2 當缺陷反射波有多個高點時，則宜以缺陷兩端反射波極大值之處的波高降低6dB之間探頭的移動距離，作為缺陷的指示長度（圖7．3．9）。
圖7．3．9 端點峰值測長法
3 當缺陷反射波在Ⅰ區(qū)未達到定量線時，如探傷者認為有必要記錄時，可將探頭左右移動，使缺陷反射波幅降低到評定線，以此測定缺陷的指示長度。
10 在確定缺陷類型時，可將探頭對準缺陷作平動和轉(zhuǎn)動掃查，觀察波形的相應(yīng)變化，并可結(jié)合操作者的工程經(jīng)驗作出判斷。
